Dados Gerais do Componente Curricular
| Tipo do Componente Curricular: |
DISCIPLINA |
| Unidade Responsável: |
PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA MECÂNICA - CTG (11.65.17) |
| Código: |
PEM1079 |
| Nome: |
INTRODUÇÃO À MICROSCOPIA ELETRÔNICA |
| Carga Horária Teórica: |
45 h. |
| Carga Horária Prática: |
0 h. |
| Carga Horária Total: |
45 h. |
| Pré-Requisitos: |
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| Co-Requisitos: |
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| Equivalências: |
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| Excluir da Avaliação Institucional: |
Não |
| Matriculável On-Line: |
Sim |
| Horário Flexível da Turma: |
Sim |
| Horário Flexível do Docente: |
Sim |
| Obrigatoriedade de Nota Final: |
Sim |
| Pode Criar Turma Sem Solicitação: |
Não |
| Necessita de Orientador: |
Não |
| Exige Horário: |
Sim |
| Permite CH Compartilhada: |
Não |
| Permite Componente Flexível: |
Não |
| Quantidade de Avaliações: |
1 |
| Ementa/Descrição: |
Técnicas de preparação de amostras e corpos de prova.
Fundamentos da Microscopia Óptica. Ótica Geométrica e Ótica Eletrônica. Interação Elétron-Matéria.
Fundamentos operacionais de um Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV). Canhão de elétrons. Aberturas. Aberrações das lentes. Elétrons secundários (SE). Elétrons retro espalhados (BSE). Detectores de SE e BSE.
Formação da imagem no MEV. Escolha dos parâmetros para aquisição de imagens. Alinhamento do microscópio. Artefatos de imagem. Métodos de correção. Microssonda eletrônica: EDS e WDS.
Difração de elétrons retroespalhados (EBSD). Princípio de funcionamento. Aplicações: textura, tamanho de grão, identificação de fases, microdeformações, etc.
TEM – Microscopia Eletrônica de Transmissão.
STEM – Microscopia de transmissão em varredura.
SPM – Microscopia de varredura por sonda mecânica
Objetivo: o objetivo da disciplina é proporcionar ao aluno conhecimento fundamental e contextualizado de microscopia eletrônica de varredura e algumas das mais importantes técnicas conexas de caracterização de materiais, como espectroscopia de raios-X dispersiva em Energia (EDS) e em Comprimento de Onda (WDS), difração de elétrons de retroespalhados (EBSD). Introdução à microscopia eletrônica de transmissão, transmissão por varredura e varredura por sonda mecânica.
Justificativa: necessidade de capacitar o aluno no uso da microscopia eletrônica de varredura e técnicas associadas, como EDS, WDS e EBSD, fundamentais para a análise microestrutural e composicional de materiais. A introdução a métodos avançados, como MET, STEM e SPM, amplia a formação, preparando o estudante para desafios científicos e tecnológicos em pesquisa e indústria.
Método de avaliação: a nota será composta por duas Prova e um seminário, sendo contabilizada por Nota Final = ((Prova 1 + Prova 2)*0,7 + Seminário*0,3)/2 |
| Referências: |
T.G. Rochow, P.A. Tucker, Introduction to microscopy by means of light, eletrons, x-rays, or acoustics. Plenum Press, New York, 1994.
L. Remier. Scanning Electron Microscopy, Spring-Verlag, Berlin, 1984.
J.I. Goldstein et al. Scanning Electron Microscopy and X-ray microanalysis, 2nd edition, Plenum Publishing Corporation, 1992. |
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